逆程电容在电子设备中，特别是在行扫描电路中，起着至关重要的作用。它主要影响行高压、行电流以及行扫描的稳定性。以下是逆程电容减小可能带来的影响：
行高压升高：
逆程电容减小会导致行高压升高。这是因为逆程电容在行扫描过程中提供逆程电压，电容减小使得逆程时间变短，电流变化率增大，从而产生更高的感生电动势，导致行高压上升。
辐射增加：
行高压升高可能会增加电磁辐射，这对人体是有害的。
可能烧行管：
行高压的异常升高可能会导致行输出管（行管）击穿，从而损坏器件。
行电流增大：
逆程电容减小虽然会导致行高压升高，但同时也可能引起行电流的增大，这可能会进一步影响行扫描的稳定性。
行幅度变小：
逆程电容减小会导致行扫描的逆程时间变短，进而影响行幅度，使图像的行幅变小而不是变大。
过电压和打火现象：
逆程电容容量过小还可能引起行回扫过程中的过电压和打火现象，影响电路的稳定性和可靠性。
综上所述，逆程电容的减小会带来一系列负面影响，包括行高压升高、辐射增加、可能烧行管、行电流增大、行幅度变小以及过电压和打火现象。因此，在设计行扫描电路时，需要仔细选择逆程电容的容量，以确保电路的正常工作和可靠性。如果需要进一步减小逆程电容，建议先进行充分的实验和仿真，以评估可能的影响，并采取相应的措施来避免潜在的问题。